光學器件可改善檢查時間

德國梅爾斯堡 -盡管質(zhì)量和測試部門的工程師通常使用機械觸覺傳感器系統(tǒng)來繪制復雜形狀的三維坐標，但這些技術存在眾所周知的缺點。這些方法需要較長的測量時間，不適用于柔軟或敏感的表面。Breuckmann GmbH提供基于白光的非激光光學測量設備，專為生產(chǎn)環(huán)境而設計。根據(jù)應用，用戶可以使用兩個系統(tǒng)：optoCAM系統(tǒng)，用于需要絕對測量的應用 - 如快速原型制作;和optoSIS用于相對測量，例如檢測三維表面缺陷所需的測量。這些系統(tǒng)采用三角測量原理，結合Breuckmann所稱的微型投影技術(MPT)。在該方法中，鹵素燈或閃光燈通過承載網(wǎng)格結構的晶片將照射圖案投射到測量對象上。CCD攝像機記錄投影圖案，其由不同線寬的MPT網(wǎng)格組成。最大投影線密度范圍為每毫米64到256行。

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接下來，計算機處理所接收的網(wǎng)格圖像以計算出3-D坐標中的照射點的位置。為了將高精度與絕對位置信息相結合，投影序列包括格雷碼和相移。在一些應用中，一個網(wǎng)格結構足以用于相對測量或時間關鍵過程。

Breuckmann技術銷售部門的Ulrich Krackhardt指出了MPT方法的優(yōu)勢：“與使用LCD顯示器投影圖像相比，MPT方法可以產(chǎn)生更小更輕的傳感器，而不會損失精度和分辨率。”

校準程序部分地自動確定幾何參數(shù)。該校準過程還考慮了光學成像系統(tǒng)中的像差。它會自動屏蔽掉諸如孔之類的功能，而沒有找到合理的坐標數(shù)據(jù)。

如果需要，從不同的視角拍攝物體的許多鏡頭或“補丁”。這樣做會產(chǎn)生幾千到幾百萬個測量點的三維坐標，具體取決于應用?？梢砸院唵蔚姆绞胶喜⑺玫降难a丁。該系統(tǒng)在12 x 15 cm的區(qū)域內(nèi)實現(xiàn)20至30分辨率。

“它重量輕，體積小”，Krackhardt說，“使測量系統(tǒng)非常適合機器人應用。”作為一個例子，他注意到壓制部件的質(zhì)量控制，其中系統(tǒng)在幾秒鐘內(nèi)檢測到小的凹痕和凸起。

該系統(tǒng)目前在Sindelfingen的梅賽德斯 - 奔馳工廠運行，通過沖壓生產(chǎn)線測量零件的表面質(zhì)量。完整的過程只需幾秒鐘，并在三方?jīng)Q定中說明零件是好的，廢品還是需要返工。