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科學(xué)家開(kāi)發(fā)了接近環(huán)境壓力的光發(fā)射電子顯微鏡

2019-11-16 09:23:16 編輯: 來(lái)源:
導(dǎo)讀 由中國(guó)科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所(DICP)的傅強(qiáng)教授和包新和教授領(lǐng)導(dǎo)的研究小組開(kāi)發(fā)了具有可調(diào)深度的近環(huán)境光發(fā)射電子顯微鏡(AP-PEEM)。 -紫

由中國(guó)科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所(DICP)的傅強(qiáng)教授和包新和教授領(lǐng)導(dǎo)的研究小組開(kāi)發(fā)了具有可調(diào)深度的近環(huán)境光發(fā)射電子顯微鏡(AP-PEEM)。 -紫外線(xiàn)(DUV)激光源作為激發(fā)源。

他們?cè)O(shè)計(jì)并構(gòu)建了一個(gè)兩級(jí)加速電場(chǎng),一個(gè)三級(jí)差分泵系統(tǒng)和一個(gè)接近環(huán)境壓力的樣品池。在高達(dá)1 mbar的氣體環(huán)境中,在樣品表面上顯示了PEEM成像。在接近環(huán)境壓力的條件下,空間分辨率達(dá)到30 nm。此外,成像時(shí)樣品可以冷卻到150 K或加熱到1000K。這些表演均于2019年11月在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行了成功演示。

PEEM是一種功能強(qiáng)大的表面成像技術(shù),用于研究固體表面上的動(dòng)態(tài)過(guò)程。如今,所有PEEM測(cè)量都需要在超高真空(UHV)條件下進(jìn)行,與實(shí)際應(yīng)用相比,這存在很大的“壓力差”。

新開(kāi)發(fā)的AP-PEEM可以在接近現(xiàn)實(shí)的工作條件下工作,這表明在多相催化,能量轉(zhuǎn)換設(shè)備,環(huán)境過(guò)程和生物科學(xué)中的重要應(yīng)用。

AP-PEEM與中科院理化技術(shù)研究所開(kāi)發(fā)的可調(diào)DUV激光源結(jié)合使用。整個(gè)DUV-AP-PEEM系統(tǒng)是在DICP催化國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室中開(kāi)發(fā)和安裝的,需要五年以上的時(shí)間。


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