工程師開發(fā)了強大的工具來幫助半導體制造商發(fā)現(xiàn)缺陷

由于澳大利亞國立大學(ANU)開發(fā)的突破性發(fā)明，有缺陷的移動電話和太陽能電池很快就會成為過去。

工程師們已經(jīng)開發(fā)出一種強大的新工具，可以幫助制造商發(fā)現(xiàn)日常技術中的缺陷或不需要的功能 - 例如移動電話，電池和太陽能電池 - 在制造過程中更容易和更早。

主要作者Hieu Nguyen博士說，這項發(fā)明的工作原理是在幾秒鐘內(nèi)捕獲半導體材料的高分辨率圖像，包括許多潛在的缺陷。

“我們稱之為'速度和空間的奇跡'。它不僅比當前使用的技術快幾倍 - 它的速度提高了數(shù)萬倍，”澳大利亞國立大學電氣，能源研究院的Nguyen博士說。材料工程。

“這為研究和工業(yè)領域的新一代超高分辨率，精確表征和缺陷檢測工具打開了大門。”

澳大利亞國立大學的研究人員與美國國家可再生能源實驗室的科學家合作，發(fā)現(xiàn)各種半導體材料發(fā)出的光，包括硅，鈣鈦礦和許多薄膜，具有一些非常獨特的特性。

Nguyen博士說，一旦這種光被攝像機捕獲，光學圖像可用于收集有關材料如何工作的重要信息。

“現(xiàn)在我們對光的特性了解得更多 - 而且從圖像中我們可以提取不同深度的不同信息，”他說。

“這項研究的優(yōu)點在于我們使用了商業(yè)上可用的普通工具，并將它們轉化為非凡的東西。”

Nguyen博士說，他的團隊通過捕獲光學帶隙圖像展示了他們的方法，這是研究人員需要了解的關于材料的第一批信息。

這種帶隙決定了半導體的許多特性，包括吸收光和導電的能力。

“我們在澳大利亞國立大學制造的各種最先進的鈣鈦礦太陽能電池上廣泛測試了這項發(fā)明，并用許多其他低速或低分辨率技術獨立地證實了這一結果。它們完美匹配，”他說。

“我們正在改進這項發(fā)明，以便將其商業(yè)化。”

來自澳大利亞國立大學的共同作者Boyi Chen表示，他對團隊研究成果感到非常興奮。

“在發(fā)明之前，花了整整一周的時間才能在設備上獲得高質量的帶隙圖像。現(xiàn)在，通過我們的發(fā)明，只需幾秒鐘就能獲得相同質量的圖像，”陳先生說。

“本發(fā)明將有助于生產(chǎn)更強大的移動電話，太陽能電池，傳感器和其他光學設備，因為它可以在制造過程中很早就發(fā)現(xiàn)缺陷。”